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方块电阻测试仪 GSZ-SRM-232-100 说明

发布时间2015-07-20 浏览次数：856

方块电阻测试仪/电阻测试仪型号：GSZ-SRM-232-100

GSZ-SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
GSZ-SRM-232型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号：GSZ-SRM-232-10、GSZ-SRM-232-100、GSZ-SRM-232-1000、GSZ-SRM-232-2000；

◆ 特点：

1	轻便手持式设计
2	127个数据测试点保存
3	通过RS-232与电脑通讯

◆ 技术指标：

GSZ-SRM-232-10	测量范围： 0.000～9.999(Ω/□) 分辨率：0.004(Ω/□)
GSZ-SRM-232-100	测量范围：00.00～95.00(Ω/□) 分辨率：0.04(Ω/□)
GSZ-SRM-232-1000	测量范围0～1000(Ω/□) 分辨率：0.4(Ω/□)
GSZ-SRM-232-2000	测量范围：0～2000(Ω/□) 分辨率：0.8(Ω/□)