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产品名称: 中压、大口径安阀校验台 型号:HAD-SAT-QT1
产品型号: HAD-SAT-QT1
品牌: 70
产品数量:
产品单价: 面议
日期: 2023-10-24

中压、大口径安阀校验台 型号:HAD-SAT-QT1的详细资料


1.中压、大口径安阀校验台 型号:HAD-SAT-QT1

中压、大口径安阀校验台该设备适用于口径DN350mm及以下的各种型号、规格的法兰式、螺纹式安阀校验。采用气动夹紧结构,是种快捷、省力、的安阀校验台。

中压、大口径安阀校验台本型号校验台适用大型企事业单位。
该设备适用于口径DN350mm及以下的各种型号、规格的法兰式、螺纹式安阀校验。采用气动夹紧结构,是种快捷、省力、的安阀校验台。已有不少大型石化企业、锅炉压力容器检验所等单位在用,并已供出口援外项目。有了这设备,不管、中、低压及大、中、小通径、法兰或螺纹式、产或口安阀的校验都可解决了。遇到程大修适用。
介质zui导入压力为15Mpa。
本设备分三个作台,其各档通径相应可检验的zui压力见表:
作台:                 mm-Mpa

DN
32
40
50
80
100
PN

14.0

10.0
6.4
4.0
2.5

  二作台:

DN
≤50
80
100
150
PN

14.0

10.0
8.0
2.5

  三作台:

DN
150
200
250
300
350
PN

6.4

4.0
3.0
2.0
1.6

  本设备可配电脑显示、打印、储存有关数据(费用另计)。
根据用户情况,有地坑式和非地坑式两种,地坑式的优点是检验大口径安阀时重心低、安方便。非地坑式优点为可以常变换设备位置。












2.磁保持继电器调整台/继电器调整台 型号:SZJ-RA-5

SZJ-RA-5 磁保持继电器调整测试台可在4组和以下电磁继电器(包括单、双线圈磁保持继电器)在生产过程中做作不感动、感动、不开放、开放和额定电压等调试用.也可以作继电器(含持保持济电器)的感动电压,开放电压,二次吸合电压,衔铁释放电压等参数测试用。

主要术标和能
1.线圈驱动电压:0—50V,输出电流zui大为300mA,度为1%。
2.仪器能对于线圈输出电流大于300mA行过流保护并有过流灯示,以防止电流过大损坏仪器。
3.能按程序自动输出以额定电压的80%,90%,0V的脉冲波形,供调试用。
4.能按程序自动输出不动作电压、动作电压、额定电压、不开放电压、开放电压到继电器线圈上。当继电器动作正确时通过灯亮,如某档不正确时,不合格灯和该出错项目灯会亮,并有声音输出。
5.额定电压、不动作电压、动作电压、不开放电压、开放电压,二次吸合电压,衔铁释放电压七个电压可以通过面板上的按键编程设置。并保存在存储器理,停电时不会丢失。
6.可预存储100组产品的参数,用户可选用。
7.作为测试仪用时,可测出继电器的感动电压,开放电压,二次吸合电压,衔铁开放电压的实际值,0-7V时,显示值,小数点后三位数(例如:3.456V);7-50V时,小数点后两位数(例如:23.15V)。
8.耗<=15W。
9.测试时间<=1S









3.
抗干扰介质损耗测试仪/抗干扰介质损耗检测仪 型号:WT-TE8000

用于测量各种压电气设备的缘介质损耗因数tgδ与电容量Cx,可鉴别电气缘设备污染、破裂、穿孔、受潮等引起的缺陷和隐患。适用于变压器、互感器、套管、电力电缆、电容器、缘子、压开关、避雷器等设备的介质损耗和电容量测量。
WT-TE8000抗干扰介质损耗测试仪是压电缆拖地使用对反接测试数据无影响的介损测试类仪器,并采用了四代抗干扰术:“自动反干扰源”。成解决了普通介损测试仪现场使用抗干扰能力差、反接法测试数据不准等问题。

(1) 采用四代抗干扰术“自动反干扰源”,在抗干扰效果的同时测试值的等效性优于“异频法”。
(2) 实现从压插座到压导线缘的介损测试仪。压导线不仅能直接拖地使用,而且消除了反接测试时导线泄漏电流对测试结果的影响。10kV输出时,对地无放电、无泄漏、无声响。
(3) 实现接地试品和非接地试品采用相同接线,避免因不同接线方式引起的接线误差。
(4) 采用多重屏蔽系统,配合“反干扰源”和数学模型,仪器具有很的测试度,并且测试数据重复性
(5)通过内置的JTAG在线编程接口,可实现设备在现场不拆机升。

术参数

作电源 电压:AC220V±10% 频率:50Hz±1Hz
使用环境 环境温度:-10℃~40℃ 相对湿度:≤80%
外形尺寸 长390mm*宽290mm*320mm
质量 20Kg
测试作方式 正接法 反接法 抗干扰正接法 抗干扰反接法
输出率 1.5KVA
电容测量范围 10KV: 0~40000pF
<5KV: 0~0.1μF
电容zui小分辨率 0.001pF
电容度 正接 ±(2%读数+2pF)
反接 ±(2%读数+10pF)
介损测量范围 0~50%
介损测量度
测试内容 电容量范围(Cx) 试品类型 基本误差
介质损耗因数tgδ 2000pF~40000pF 非接地 ±(2%读数+0.0005)
接地 ±(2%读数+0.0010)
10pF~200pF或40000pF以上 非接地 ±(2%读数+0.0010)
接地 ±(2%读数+0.0020)
3pF~10pF 非接地与接地



北京恒奥德仪器仪表有限公司
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