1.压力式水位计/水位计/压力式水位仪 /压力水位计/压力水位仪 型号：YSW-2

压力水位仪 型号：YSW-2
概 述
主要用于水利水电程、水情预报、水利调度等门的水位站、水文站作水位远传及显示、水位遥测接口、水位记录及固态存贮。它无需建水位测井及井台，安装移动为方便，适用于江河、湖泊、水库及其它天然水体中。
WYD10型压力式遥测水位计具有水位显示和并行BCD码输出接口或标准RS-232、RS485通讯口。可直接和遥测数传仪、MODEM、卫星通讯数据终端、水位固态存贮器和计算机相接，成无测井数据采集务。配置MODEM后可实现无测井水位远传。仪器由三分组成。还可以配以“记时数字记录仪”或“水位遥测终端”作水位记录或水位遥测之用。其鉴定证书为：（95）水利视鉴字2号；质量术监督局生产许可证编号：XK34-1320016。
YSW-2型压力水位计除具有上述能外，还配以定时记时数据记录仪，作水位记录。其鉴定证书为：水电产85012；质量术监督局生产许可证编号：XK34-1320017。
两产品均符合GB11830-89和SL50-93标准。

压力水位仪 型号：YSW-2
主要术标
● zui大水位变幅：10m或20m
● 度：2‰变幅±1cm
● zui大静水压力：150%变幅
● zui小分辨值：1mm
● 输出编码方式：并行BCD码或标准RS-232、RS-485通讯口
● 传输距离：小于2km（电缆另购）
● 记录格式：××时××分#××，×××m，每日零时记录××年××月××日
● 时钟误差：≤2秒/日
● 环境温度：-10℃至40℃，与传感器接触的水不能结冰

2.食品样品采样箱 型号：H28548

3.电阻率/方块电阻测试仪 型号：HAD-DB1

本HAD-DB1方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到、无损的方块电阻测量结果。

由于薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此HAD-DB1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到zui大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了个摸索测试条件的宽阔空间。

由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。

HAD-DB1仪器性能

方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，zui小分辨率1×10-5Ω/□；

电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；

探针压力：25g～250g；

探针曲率半径：25μm～450μm

（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）；

测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调

（100mA档） 8～36V连续可调

（1000mA档） 8～15V连续可调；

测量方式：手动或自动（配置专用测试软件）；

测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。