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ZS1-AV6334光率计是种智能化、、灵敏度的光率计,可行宽动态范围、光率测量、分辨率的损耗测量和稳定度测试。配备GPIB接口和RS232接口,可组成自动测试系统。广泛用于光通信设备、光纤、光无源器件的测试,具有率范围宽、测试度、、性好、操作简单等特点。该产品为系列光率计,分为ZS1-AV6334A、ZS1-AV6334B、ZS1-ZS1-AV6334C、ZS1-AV6334D、ZS1-AV6334E五种。
主要特点:
● 调零能
● 量程自动、量程保持和手动切换能
● 波长响应补偿能
● 数据存储、回看、输出能
● 分光比及分光损耗测试能(仅限ZS1-AV6334B,ZS1-AV6334C型)
● 参数设定能
● 测量应用能
● GPIB和RS232接口能
●调零能
该产品提供了用户手动调零能。该能可消除光电探测器的暗电流及噪声所产生的等效率,对于-50dBm以下的微弱输入光率,可行遮光调零,再行测试,这样可以提测量度。
●量程自动、量程保持和手动切换能
该产品提供了量程自动、量程保持和手动切换能。用户可根据被测光率变化范围、变化速度的不同,采取不同的量程方式行测试。例如,对于变化范围不足10dB的输入光率,选择量程保持能,可节省量程自动切换方式下所消耗的时间,大大提了测量速度。
●波长响应补偿能
为满足用户对波段范围内的率测试,该产品内置了与光电探测器相符的波长响应补偿曲线。另外,该产品还可根据用户的特殊要求,对某些特殊波长点行校准。
●数据存储、回看、输出能
该产品为用户提供了测试过程中的数据存储、数据回看、数据输出能,以方便用户对纪录的数据行后期处理。
●分光比及分光损耗测试能
该产品系列中的ZS1-AV6334B,ZS1-AV6334C光率计,还为用户特别提供了分光比及分光损耗测试能,非常适合光耦合器等无源光器件生产制作过程中的率分配和率损耗的监测。
●参数设定能
为方便测试,该产品提供了参数设定能,诸如用户自定义波长λ、相对测量参考率值REF、用户校准因子CAL、GPIB地址、分光比设定CPLR、时钟CLOCK等参数,用户均可根据需要行设定。
●测量应用能
该产品为方便用户使用,特别提供了测量应用能,如测量值MAX、值MIN、值DIF能,可用于输入光率的稳定度相关的测试。
●GPIB和RS232接口能
该产品提供了GPIB接口和RS232接口。RS232接口可用于测量数据实时输出。GPIB接口可用于与其它GPIB设备及PC机组成自动测试系统。
典型应用:使用ZS1-AV6334光率计测量光源的输出光率大小和输出光率稳定度。
将光源的率输出端口与光率计的率输入端口用光纤跳线相连,开机行预热,设定光率计的测量波长与光源中心波长致,则测量显示值即为光源输出光率大小。
根据测试要求,在测量应用提供的值MAX测试、值MIN测试、值DIFF测试三个能中选择个,开启运行,同时仪器时钟从零开始计时。在规定的测量时间内,光率计能够自动测试并纪录测量值,测量时间到后,停止值测试,则值测量显示值即为光源输出光率的稳定度。
典型应用二:使用ZS1-AV6334光率计测量光耦合器的分光比。
用光纤跳线将光源输出口和光耦合器输入端连接,将光耦合器的两个输出端分别用光纤跳线接入ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C光率计的两个输入通道。按下“方式”键,光率计从普通测量模式入分光比测试模式,仪器显示的测量值即为分光比和总率损耗。ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C为用户提供的这特别能,非常适合光耦合器等无源光器件生产制作过程中的率分配和率损耗的监测。
术规范:
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ZS1-AV6334A |
ZS1-AV6334B |
ZS1-AV6334C |
ZS1-AV6334D |
ZS1-AV6334E |
| 通道1 |
通道2 |
通道1 |
通道2 |
通道1 |
通道2 |
通道1 |
通道1 |
| 波长范围*1(nm) |
1000~1650 |
400~999 |
800~1650 |
400~1100 |
800~1650 |
400~1100 |
| 探测器类型 |
InGaAs |
Si |
InGaAs |
Si |
InGaAs |
Si |
| 率范围 |
-80~+10dBm |
率度*2
(-25.00dBm) |
±0.2dB |
率度*3
(+10~-80dBm) |
±0.5dB±50pW |
| 通道致性*4(-25.00dBm) |
/ |
±0.1dB |
/ |
/ |
| 数据输出速率*5 |
≥2个/秒·通道 |
注1:校准波长为850nm、1310nm、1550nm。
注2:当天校准,环境温度23℃±5℃,恒温,FC适配器,连续波。
注3:环境温度0℃~40℃,恒温,FC适配器,连续波。
注4:当天校准,环境温度23℃±5℃,恒温,FC适配器,连续波。
注5:RS232接口输出。
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