您当前的位置：首页 » 产品展示 » 专用仪器仪表 » 方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51
| 产品名称： | 方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51 |
| 产品型号： | HAD-WSP-51 |
| 品牌： | 70 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2023-10-20 |
方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51的详细资料
1.方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号：HAD-WSP-51
HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸（手持式）
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
|
量程 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
|
kΩ-cm/□ |
Ω-cm/□ |
mΩ-cm/□ |
|||
|
基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±1.5%FSB ±4LSB |
|||
4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
2.振动综合实验教学系统 实验教学系统 教学系统 型号：HAD-XH1008
|
振动综合实验教学系统”是专为等院校的机械学科、土木结构学科和力学学科等开发的整教学实验系统，结合等院校的教学理论课程，用实验方法为学生提供整套实验设备，使学生能通过直观实验来加深学习理论，是教学的备实验装置。
配置的数据采集仪、放大器、传感器和软件等还可用于科研作。 |
|
|
★“振动综合实验教学系统”构成：
(1)振动综合实验台； (2)组合式简支梁和悬臂梁； (3)圆盘结构体； (4)接触式激振器及率放大器； (5)非接触式激振器及率放大器； (6)电荷加速度传感器； (7)力锤； (8)单式、复式减振器； (9)主动、被动隔振器，调压器； (10)二、三自由度钢弦，配重块； (11)动、静应变仪(选配)； (12)电荷、电压、滤波、积分四能放大器； (13)数据采集仪； (14)结构振动综合教学仪； (15)振动分析教学软件； (16)计算机(自备)。 ★实验内容： (1)简谐振动振幅、频率测量实验； (2)机械振动系统固有频率测量(正弦扫描)实验； (3)机械振动系统固有频率测量(里莎育图)实验； (4)二自由度及多自由度系统的各阶固有频率和主振型测量实验； (5)多自由度系统的强迫、衰减振动的幅频特性、固有频率测量实验； (6)半率带宽法阻尼比测量实验； (7)衰减法阻尼比测量实验； (8)简支梁和连续弹性体悬臂梁的固有频率、主振型测量实验； (9)动、静应变测量实验(需要配应变仪)； (10)简支梁锤击法结构模态振型量实验； (11)悬臂梁锤击法结构模态振型量实验； (12)单式吸振器吸振实验； (13)复式吸振器吸振实验； (14)油阻尼实验； (15)拍振实验； (16)主动隔振实验； (17)被动隔振实验； (18)二、三自由度钢弦振型测量实验； (19)振动谱分析、数字滤波、信号处理和分析。 |
|
3.简易电测测E试验台 电测测E试验台 测E试验台 型号：HAD-BCE-1J