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| 产品名称： | 方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51 |
| 产品型号： | HAD-WSP-51 |
| 品牌： | 70 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2023-10-24 |
方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51的详细资料
1.方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号：HAD-WSP-51
HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸（手持式）
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
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量程 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
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kΩ-cm/□ |
Ω-cm/□ |
mΩ-cm/□ |
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基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±1.5%FSB ±4LSB |
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4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
网址：www.51658042.com
2.温压动态滤失仪/温压动态滤失器 型号：QHT-HDF-1
用途及特点
3.数字测振仪/便携式数字测振仪(可测速度/加速度/位移)型号：HA-TM63A
测量范围（加速度） 0.1～199.9m/s
测量范围（速度） 0.1～1999.9mm/s rms
测量范围（位移） 0.001～1.999mm P-P
测量误差 ±5%±2digits
测量频率（加速度） 10Hz～1KHz(LO)
测量频率（加速度） 1KHz～15KHz(HI)
测量频率（速度/位移） 10Hz～1KHz
数据输出 AC输出2V peak（显示量程）、负载
测量模式 加速度/速度/位移
数据替周期 1s
低电显示 √
自动关机 √
电池寿命 连续使用25小时
电源 9V电池