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产品名称: 无油无水静音空压机/用无油静音空压机 HQWWJ-60
产品型号: HQWWJ-60
品牌:
产品数量:
产品单价: 面议
日期: 2024-01-25

无油无水静音空压机/用无油静音空压机 HQWWJ-60的详细资料


1.无油无水静音空压机/用无油静音空压机 型号:HQWWJ-60

电压Volt/Hz :220/50

Kw:0.55

容积流量L/min(0.8Mpa):40

zui压力Mpa:0.8

出口压力Mpa:0-0.6可调

气罐容积L:6

露点℃:5

噪音dB(A):50

重量Kg:36

外形尺寸mm:0

干燥方式:冷凝


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北京恒奥德仪器仪表有限公司

联系方式:/5

: 凡经理
地址 : 北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211

邮箱 :hadgs2009@163.com
网址 :http://www..com。 http://www.had200911.cn
: http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/45/
QQ : 1968











2.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成:由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入;具有零位、满度自校能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
电 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
方块电阻: 0.050~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
直 径:HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长()度:测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.

量程划分及误差等

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

电阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k/100.0k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

重:≤0.3kg








3.
多能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校能;电压电流自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能,zui大分类10类。
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台,也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量)
电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径: HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长()度: 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可

量程划分及误差等

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常规量程

kΩ-cm/

kΩ-cm/

Ω-cm/

mΩ-cm/

---

zui大拓展量程

---

kΩ-cm/

Ω-cm/

mΩ-cm/

mΩ-cm/

基本误差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W

5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm()

重:≤1.52.0kg










温馨提示:以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的