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| 产品名称： | 备用切换开关 HA-6NP-5 |
| 产品型号： | HA-6NP-5 |
| 品牌： | 70 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2023-10-24 |
备用切换开关 HA-6NP-5的详细资料
- 使用环境：
- 温度：5-50℃
- 湿度：30-80%（25℃）
- 抗干扰：400A/M（DC-50Hz
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2.珍型大屏幕显示四种气体检测仪/四种气体检测报警仪 型号:RL-GX-2009
| 检测气体 | 所有可燃气体 | 氧气（O2） | 硫化氢（H2S） | 氧化碳（CO） |
| 检测原理 | 催化燃烧 | 原电池原理 | 电化学原理 | 电化学原理 |
| 检测范围 （分辨率） |
0~LEL （1%LEL） |
0~40vol% （0.1vol%） |
0~100.0ppm （0.5ppm） |
0~500ppm （1ppm） |
| 采样方式 | 扩散式 | |||
| 液晶显示 | 同时显示四种气体的浓度；液晶数段显示；警报时背光自动点亮 | |||
| 报警声音 | 30cm处95dB | |||
| 预设报警点 （用户可调） |
1st：10%LEL 2nd：50%LEL 超量程：LEL |
低报警：19.5vol% 报警：23.5vol% 超量程：40.0vol% |
：10.0ppm 二：30.0ppm TWA：10.0ppm STEL：15.0ppm 超量程：100.0ppm |
：25.0ppm 二：50.0ppm TWA：25.0ppm STEL：200ppm 超量程：500ppm |
| 报警类型 | 气体报警：两预设报警点；STEL、TWA、超量程报警 故障报警：传感器未连接；低电压；电路板故障；校准范围错误 |
|||
| 报警显示 | 气体报警：LED灯闪烁；蜂鸣器鸣叫；气体浓度值闪烁；振动 故障报警：LED灯闪烁；蜂鸣器鸣叫；显示故障信息 |
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| 能 | 手动背光液晶（报警时自动点亮）；数据下载（40小时）；STEL、TWA、峰值保持； 报警曲线，直接充电；实时显示时间，自动校准 |
|||
| 数据传输 | 红外数据传输 | |||
| 作温湿度 | -20℃~+50℃；0~95%RH，非凝结 | |||
| 反应时间 | T90：小于30秒 | |||
| 连续作时间 | 充电情况下，20小时（90分钟快速充电可作14小时） | |||
| 使用电源 | 镍氢充电电池组，可直接充电（快速充电只需180分钟） | |||
| 外壳材料 | 聚碳酸酯橡胶 | |||
| 外壳防护等 | IP67 | |||
| 安认证 | ATEX II 1G Ex ia IIC T4 IECEx Zone 0 Ex ia IIC T4 CSA Approval CE JML aPPROVAL |
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| 尺寸重量 | 约70（H）′75（L）′25（D），约130克 | |||
| 控制按键 | 两个按键：POWER/MODE、AIR | |||
| 质保期限 | 正常作年 | |||
| 标准配件 | （1）腕带 （2）鳄鱼夹 | |||
| 选购配件 | （1）充电器（2）手捏泵（3）外置电动泵RP-6（4）数据管理软件（5）充电作站 | |||
3.双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪 型号:HAD-2263
概述
HAD-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，行两次电测量，对数据行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、能转换采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校能；测试能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作成，也可脱PC机由四探针仪器面板上操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型测试台。
详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
三、基本术参数
3.1 测量范围
电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)
直 径：HAD-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
量程划分及误差等
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满度显示 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
|
常规量程 |
kΩ-cm/□ |
kΩ-cm/□ |
Ω-cm/□ |
mΩ-cm/□ |
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基本误差 |
±2%FSB ±4LSB |
±1.5%FSB ±4LSB |
±0.5%FSB±2LSB |
±1.0%FSB ±4LSB |
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(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（）
温馨提示：以上产品资料和图片都是按顺序相对应的