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| 产品名称: | 涡流涂层测厚仪LY-LWF-200 |
| 产品型号: | LY-LWF-200 |
| 品牌: | |
| 产品数量: | |
| 产品单价: | 面议 |
| 日期: | 2024-02-28 |
涡流涂层测厚仪LY-LWF-200的详细资料
、概述GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量(磁性方法)
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量(涡流方法)
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
2)特点
便携设计,手掌大小
采用速的DSP芯片,具有快速的测量能力
人性化设计,简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换
两种校准方式,零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机能
3)测量原理
a)磁性法
当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。
b)涡流法
利用频交变电流线圈中产生磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
二、术参数
● 测量范围:0-1200um
● 作电源:两节五号电池
● 测量误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
● 公英制转换:um/mil转换
● 分辨率:0.1um/1um(100um以下为0.1um)
● 环境温度-10
● 相对湿度≤85%
● zui小基体10*
● zui小曲率凸
● 薄基体:
● 重量:
● 尺寸