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| 产品名称： | 颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 GZQ/KX-3 |
| 产品型号： | GZQ/KX-3 |
| 品牌： | 70 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2023-11-30 |
颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 GZQ/KX-3的详细资料
1.颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 型号：GZQ/KX-3术标:
⑴颗粒直径：0～20 mm
水果： 20～200 mm
⑵量程范围：0～100牛顿、0～200牛顿、0～500牛顿（选）
⑶灵 敏 度：0.1牛顿
⑷测定误差: ≤0.5%F·S±0.1N
主要特点：
用于测定化肥、药品、水果类的聚合强度
仪器介绍：
GZQ/ KD-3颗粒强度测定仪用于测定化肥、药品、水果类的聚合强度
2.电子天平 型号： LP-JJ1000
简要说明:LP-JJ1000电子天平：zui大称量1000g，分辨率0.01g，秤台尺寸 Φ135mm
详细介绍:
产品说明
JJ系列电子天平是继T系列电子天平之后推出的的产品，凭借简单的操作，较的度和灵敏度获得了顾客的青睐。它继承了T系列电子天平的优点并具备了自身的，水平泡和水平调整脚天平自身和数据的稳定，此外，天平配置有标准RS232接口，可连接打印机和计算机。
产品描述 外形
·3种称重单位：克,克拉,金衡盎司 ·坚固的铝合金底座
·计数能(取样数：1/10/20/50/100) ·塑料外壳，简单易清理
·称量去皮 ·应变式传感器
·自动校准能 ·不锈钢秤盘
·透明防风罩
·绿色荧光显示屏
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型号
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LP-JJ100
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LP-JJ200
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LP-JJ300
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LP-JJ500
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LP-JJ600
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LP-JJ1000
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zui大称量
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110g
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200g
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300g
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500g
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600g
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1000g
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分辨率(d）
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0.01g
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0.01g
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0.01g
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0.01g
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0.01g
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0.01g
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检定分度值(e）
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10d
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10d
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10d
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10d
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10d
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10d
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去皮范围
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0~110g
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0~200g
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0~300g
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0~500g
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0~600g
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0~1000g
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校准重量
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100g
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200g
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200g
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500g
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500g
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1000g
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秤台尺寸
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Φ135mm
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体积
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213（长)×195（宽）×75（）mm
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供电
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AC220V±10% 50Hz±1Hz
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使用温度
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0~40℃
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使用湿度
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≤80%RH
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串口
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RS232
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3.单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号：GZ-LT-2
| GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较，配备有红外光源，可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本仪器根据通用方法频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据。 | ||||||||||||||||||||||||
| 术 标 ： | ||||||||||||||||||||||||
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温馨提示：以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的