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产品名称: | KDK-KDY-2两探针电阻率测试仪 |
产品型号: | KDK-KDY-2 |
品牌: | 70 |
产品数量: | |
产品单价: | 面议 |
日期: | 2024-05-07 |
KDK-KDY-2两探针电阻率测试仪的详细资料
两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪 (测锗) 型号:KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪(以下简称两探针仪)是按照我标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率,测样长度与截面zui大尺寸之比应不小于3:1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,测量结果为横截面的平均电阻率,两探针法的测量度般优于四探针法。
仪器标:
1.使用波长:632.8nm
2. 自由光谱区:2500MHz
3. 细常数:>100;>200
4. 探测器带宽:1.0MHz |
锯齿波电源标:
1. 频率:5~100Hz 可调
2. 幅度:0~150V 可调
3. 偏置电压:0~150V可调
4. 线形:<10% |
型号 |
波长 |
细常数 |
外形尺寸(W x H x L)(mm) |
重量(g) |
GCI-790101 |
632.8nm |
>200 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
GCI-790102 |
632.8nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
GCI-790103 |
532nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |