产品名称：	WH89-16025 风杯式风向风速表生产的
产品型号：	WH89-16025
品牌：	70
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2023-10-25

WH89-16025 风杯式风向风速表生产的的详细资料

1.风杯式风向风速表/便携式风向风速表/便携式风向风速仪/风向风速计  型号：WH89-16025

简介:
    风杯式风向风速表中风速的测量分采用了嵌入式术，可以同时测量瞬时风速、瞬时风、平均风速、平均风、对应浪等5个参数。并采取了许多降低能的措施，大大减少仪器的耗，它带有数据锁存能，便于读数。本仪器体积小、重量轻、能、耗电省，可以广泛应用于农林、环境、海洋、科学考察、气象教学等域测量大气的风参数。

1、风速术标	测量范围	0～30m/s
	起动风速	0.8m/s
	测量度	±（0.3+0.03v）m/s（v示风速）
	风速参数	瞬时风速、平均风速、瞬时风、平均风、及其对应浪
	显示分辨率	0.1m/s（风速）1（风）0.1m（浪）
2、风向术标	测量范围	0～360度，16个方位
	起动风速	1.0m/s
	测量度	±1方位
	风向定北	自动
3、作环境	温度	-10～45°C
	湿度	≦RH（无凝结）
4、供电电源		4.5V 5号电池3节
5、尺寸和重量	尺寸	405x100100立方毫米
	重量	0.5kg

2.四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪(不能接电脑） 型号：GSZ-RTS-4（SDY-4替代）

GSZ-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子术行设计、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
GSZ-RTS-4型四探针软件测试系统是个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地行各项测试及获得测试数据并对测试数据行统计分析。
    测试程序控制四探针测试仪行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据行各种数据分析
术参数：

测量范围	电阻率：0.0001～2000Ω.cm(可扩展)；    方块电阻：0.001～20000Ω/□(可扩展)；   电导率：0.0005～10000 s/cm；   电阻：0.0001～2000Ω.cm；
可测晶片直径	140mmX150mm(配S-2A型测试台)；  200mmX200mm(配S-2B型测试台)；  400mmX500mm(配S-2C型测试台)；
恒流源	电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　  分辨力：10μV；  输入阻抗：>1000MΩ；  度：±0.1% ；  显示：四位半红色发光管数字显示；性、超量程自动显示；
四探针探头基本标	间距：1±0.01mm；  针间缘电阻：≥1000MΩ；   机械游移率：≤0.3%；  探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm；  探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87行)	0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
计算机通讯接口	并口
标准使用环境	温度：23±2℃；  相对湿度：≤65%；  无频干扰；  无强光直射；

3.四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪(接电脑） 型号：GSZ-RTS-4（SDY-4替代）

GSZ-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子术行设计、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
GSZ-RTS-4型四探针软件测试系统是个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地行各项测试及获得测试数据并对测试数据行统计分析。
    测试程序控制四探针测试仪行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据行各种数据分析
术参数：

测量范围	电阻率：0.001～200Ω.cm(可扩展)；    方块电阻：0.01～2000Ω/□(可扩展)；   电导率：0.005～1000 s/cm；   电阻：0.001～200Ω.cm；
可测晶片直径	140mmX150mm(配S-2A型测试台)；  200mmX200mm(配S-2B型测试台)；  400mmX500mm(配S-2C型测试台)；
恒流源	电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档，各档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　  分辨力：10μV；  输入阻抗：>1000MΩ；  度：±0.1% ；  显示：四位半红色发光管数字显示；性、超量程自动显示；
四探针探头基本标	间距：1±0.01mm；  针间缘电阻：≥1000MΩ；   机械游移率：≤0.3%；  探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm；  探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87行)	0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
计算机通讯接口	并口
标准使用环境	温度：23±2℃；  相对湿度：≤65%；  无频干扰；  无强光直射；

温馨提示：以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的