1.四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪  型号：KDK-KDY-1

四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，及时掌控测量电流。主机还提供度为0.05%的恒流源，使测量电流度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。了仪器测量电阻率的重复性和度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω•cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流度：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×度）

备注：
等测量时（测电阻率），度<3%
电气测量时（测电阻），度在0.3%以内

备注：
仪器包括：主机台；测试架（包括台面）个；四探针头1个

  2.橡胶硬度计/数显橡胶硬度计/数显邵氏硬度计  型号：HALX-A

5.使用须知

   使用前应检查硬度计的针在自由状态下应显示为零，（如不显示为零，使用清零键ZERO清零）。将硬度计压在玻璃板时，应显示100度（压针端面与压脚底面严密接触与玻璃板上）。如不示0和100度时，可以轻微按动压针几次，如仍不显示0和100度时，则不能使用。如在定荷架上使用时，可以按动手柄，使硬度计在砝码重力作用下，硬度计压足和测试台接触，此时数值显示应100±1度，可以使用试验台下两个调节手轮微调，如仍调不到100±1度，同样不可以使用，做好送厂方调整为宜。

   D型硬度计手持压在玻璃上检验零位时货装置在定荷测定架上调整零位时，须在硬度计压足下放置坚硬的专用量块，否则，硬度计压头会压损玻璃板，而且很难示值。

   橡胶试样应按GB/T631-99的要求制备，塑料试样应按GB2411-80的要求制备，橡胶微孔材料的试样应按GB2489-93的要求制备

   在可能的情况下橡塑试样在测定前应按照GB0T2941/GB/T2918的规定在实验室标准温度下行调节后再测定。当试样用A型硬度计测量值超过90度时，推荐使用D型硬度计，当D型硬度计测量值低于20度时，推荐用A型硬度计。A型硬度计示值低于10度时是不的，测量结果不能使用。硬度计在使用毕后，应擦净装入仪器盒内，放置干燥处，防止受潮。








3.硬度计/硬度仪/橡胶硬度计/邵氏硬度计  型号：HALX-A

能：
HALX-A型橡胶硬度计广泛应用于中低硬度塑料、各类橡胶、多元脂、皮革、蜡等的硬度测试。  符合标准：DIN 53505,ASTM D2240 ISO/R868,JIS R7215；  执行标准：GB/T531-99,GB2411-80,HG/T2489-93,JJG304-2003

术参数：
	；
	易操作，易携带；
	可选配HAHLX-AC型橡胶硬度计测试机架；
	zui大量程：100 HA；
	推荐测量范围：10-90 HA ；
	外型尺寸： 115*60*25(mm)；
	压针行程：2.5 mm；
	压针头尺寸： Φ0.79mm；
	净重：0.5kgs。