产品名称：	H23476  接触性平皿
产品型号：	H23476
品牌：	70
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2024-08-07

H23476  接触性平皿的详细资料

1.接触性平皿    型号；H23476 
内径56.6mm接触性平皿（接触碟）：用于设备、车间、人员、包装材料等表面微生物的测定。取代棉签擦拭法，减少取样步骤，确保取样的性和安性。培养基有效表面积为25cm2，符合新版GMP标准所规定的取样要求。
  接触性平皿 特点：1.湿热灭菌，可以重复使用。
  2.透光率好，摔不烂。（材质：俗称金属玻璃）
  3.密闭性好，培养5-7天，培养基不会干裂。
  4.内径56.6mm，培养基有效表面积为25cm2 ,符合新版GMP表面微生物取样的要求。
  并提供次性使用接触碟  满足各种表面微生物取样的要求及各种用户的需求。
  说明：只提供空接触碟，加上培养基是让看清楚接触碟是什么样的。



2.单道移液器 型号： H13239
本公司生产的系列移液器是能达到整支温压消毒的产品，它整地诠释移液器概念的新标准，人性化的减少了操作者卸装消毒的效，满足了生物科学的发展趋势，广泛的适用于临床诊断，生命科学，食品化及特殊行业的需求。在享有很的声誉，是，质量，性能的产品。
采用新材料，耐磨损，耐温；
可紫外消毒，可整支温压消毒(121℃);
采用侧窗口读数，便于观察设定量程；
带容量调节自锁能，避免误操作时成度误差；
机芯和退尖器为不锈钢材料制成；
8种不同颜色的量程标志，易于辨认；
特的挂件，可将移液器悬挂意处，无需占用面积;
产品质量度符合认证体系的检测标准；



3.电子薄膜应力分布测试仪 型号：BGS-6341

该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率
半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产艺研究。
仪器基于干涉计量的场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。
错位相移术
计算机自动条纹处理
测试过程自动
的曲面补偿测试原理
较大样品尺寸 ≤100mm (4英寸)
曲率范围 |R|≥5米
测试度 5%
单片测量时间 3分钟/片
结果类型 面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格
图形显示能 三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示
电源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
较大耗 100W
外型尺寸(L×W×H) 285mm×680mm×450mm
重量 36kg